Пресс-релиз о проведении регионального семинара по патентному анализу Пресс-релиз о проведении регионального семинара по патентному анализу
10 июля 2017
Новости

Пресс-релиз о проведении регионального семинара по патентному анализу

4-5 июля 2017 года на побережье о. Иссык-Куль, Кыргызская Республика, прошел региональный семинар по патентному анализу, совместно организованный Всемирной организацией интеллектуальной собственности (ВОИС), Евразийской патентной организацией (ЕАПО) и Государственной службой интеллектуальной собственности и инноваций при Правительстве Кыргызской Республики (Кыргызпатент).

В семинаре приняли участие представители всех государств-участников Евразийской патентной конвенции, а также делегаты из Молдовы, Узбекистана и Эстонии. Помимо руководителей и сотрудников патентных ведомств участниками семинара стали представители государственных органов, предприятий и отраслевых ассоциаций Кыргызской Республики.

Семинар был посвящен патентному анализу с углубленным рассмотрением вопросов, связанных с патентными исследованиями и подготовкой отчетов о патентных ландшафтах. Лекторами на семинаре выступили представители ВОИС, Евразийского патентного ведомства (ЕАПВ), Роспатента, а также исследовательской компании One World Analytics (Соединенное Королевство).

Делегацию Евразийского патентного ведомства на семинаре возглавила Президент ЕАПВ С. Тлевлесова, которая выступила на открытии мероприятия с приветственным словом, а также в рамках состоявшейся двухсторонней встречи обсудила с Председателем Кыргызпатента Д.А. Эсеналиевым актуальные вопросы сотрудничества.

Доклады ЕАПВ были представлены А.В. Кондратом, начальником отдела организации и контроля делопроизводства Управления экспертизы ЕАПВ. В выступлении представителя ЕАПВ были подробно рассмотрены вопросы подготовки и использования патентной статистики в ведомстве, а также возможности использования Евразийской патентно-информационной системы ЕАПАТИС при проведении патентного анализа.

Особый интерес у слушателей вызвали доклады, представленные ВОИС и тесно сотрудничающей с этой организацией компанией One World Analytics. ВОИС уже более шести лет в рамках проекта по разработке инструментов доступа к патентной информации обеспечивает создание патентных ландшафтов в наиболее социально значимых областях технологий: охрана окружающей среды, здравоохранение, безопасность продуктов питания, климатические изменения. Более того, ВОИС активно занимается методологическим обеспечением и пропагандой выполнения таких исследований по всему миру. Отличительной особенностью представленных на семинаре технологий ВОИС по построению патентных ландшафтов стало использование открытых источников данных, а также свободно распространяемого программного обеспечения для обработки данных и визуализации результатов.

Представителем Роспатента был представлен опыт российского ведомства по созданию патентных ландшафтов для использования результатов этих исследований органами государственной власти РФ и крупными российскими компаниями, были рассмотрены вопросы коммерциализации освоенных ведомством технологий патентных исследований, отмечен высокий спрос у представителей крупного бизнеса на такие исследования.

В завершении семинара делегаты из патентных ведомств региона выступили с короткими сообщениями об опыте использования в представляемых ими ведомствах средств патентной статистики и аналитики.

Другие Новости
Контактная информация
Общие вопросы
+7 (495) 411-61-61
Бухгалтерия
+7 (495) 411-61-52
Факс
+7 (495) 621-24-23
Для запросов СМИ
E-mail
Процедурные вопросы
(Изобретения)
+7 (495) 411-61-50
составление и подача евразийских заявок на изобретения; перевод международных заявок РСТ на региональную фазу в ЕАПВ; рассмотрение заявок на изобретения на этапе формальной экспертизы
+7 (495) 411-61-60
вопросы по рассмотрению конкретных евразийских заявок на изобретения на этапе экспертизы по существу
+7 (495) 411-61-57
учёт пошлин
Процедурные вопросы
(Промышленные образцы)
+7 (495) 411-61-63
вопросы, связанные с евразийскими заявками на промышленные образцы
+7 (495) 411-61-57
учёт пошлин
Основное здание
(юридический и почтовый адрес)
Россия, 109012, г. Москва, м. Черкасский пер., д. 2
Здание патентной экспертизы
(прием и рассмотрение заявок)
г. Москва, ул. Мясницкая, д. 13 стр. 1
Часы работы
С 9:00 до 17:00 по московскому времени
(в рабочие дни)