Евразийский сервер публикаций

Евразийский патент на изобретение № 035897

   Библиографические данные

(11) Номер патентного документа

035897

(21) Номер евразийской заявки

201990350

(22) Дата подачи евразийской заявки

2016.08.26

(51) Индексы Международной патентной классификации

G01N 21/87 (2006.01)
G01N 21/64 (2006.01)

(43)(13) Дата публикации евразийской заявки, код вида документа

A1 2019.07.31 Бюллетень № 07  тит.лист  описание (WO) 

(45)(13) Дата публикации евразийского патента, код вида документа

B1 2020.08.28 Бюллетень № 08  тит.лист, описание 

(86) Номер и дата подачи международной заявки

RU2016/000576

(87) Номер и дата публикации международной заявки

2018/038628 2018.03.01

(71) Сведения о заявителе(ях)

АКЦИОНЕРНАЯ КОМПАНИЯ "АЛРОСА" (ПУБЛИЧНОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО); ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ НАУЧНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ СВЕРХТВЕРДЫХ И НОВЫХ УГЛЕРОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ" ФГБНУ ТИСНУМ (RU)

(72) Сведения об изобретателе(ях)

Бланк Владимир Давыдович, Бутенко Андрей Владимирович, Денисов Виктор Николаевич, Макарский Игорь Викторович, Никитин Геннадий Маркович, Никитин Дмитрий Николаевич, Тарасова Лариса Геннадьевна, Терентьев Сергей Александрович, Трощиев Сергей Юрьевич, Ударов Сергей Вячеславович, Чаадаев Александр Сергеевич (RU)

(73) Сведения о патентовладельце(ах)

АКЦИОНЕРНАЯ КОМПАНИЯ "АЛРОСА" (ПУБЛИЧНОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО); ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ НАУЧНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ СВЕРХТВЕРДЫХ И НОВЫХ УГЛЕРОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ" ФГБНУ ТИСНУМ (RU)

(74) Сведения о представителе(ях)
или патентном поверенном

Медведев В.Н. (RU)

(54) Название изобретения

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИДЕНТИФИКАЦИИ АЛМАЗА

   Формула  [ENG]
(57) 1. Устройство для идентификации ограненного алмаза, содержащее место для измерения с измерительным отверстием, на котором размещается с возможностью фиксации ограненный алмаз, подлежащий исследованию, источник лазерного излучения с длиной волны 532 нм, микроконтроллер и оптическую систему, выполненную с возможностью перемещения относительно места для измерения, включающую спектрометр, два источника излучения с длинами волн 250-280 нм и 350-380 нм соответственно, причём указанные два источника излучения и спектрометр соединены с местом для измерения оптическими волокнами для ввода излучения в ограненный алмаз и оптическим волокном для вывода излучения из ограненного алмаза; при этом ограненный алмаз размещается в месте для измерения таким образом, чтобы площадка алмаза была обращена к измерительному отверстию места для измерения, а калетта алмаза находилась непосредственно над измерительным отверстием, к которому подводятся оптические волокна для ввода излучения и оптическое волокно для вывода излучения, при этом микроконтроллер выполнен с возможностью управления поочередной работой источников излучения с заданной временной последовательностью, перемещением оптической системы для обеспечения ввода излучения в ограненный алмаз, а также обработкой данных спектрометра.
2. Устройство по п.1, в котором оптическое волокно для вывода излучения содержит два отрезка оптического волокна, оптически соединенные между собой двумя коллимирующими линзами.
3. Устройство по п.1, в котором оптическая система выполнена с возможностью перемещения таким образом, что оптические волокна для ввода и вывода излучения от источника излучения с длинами волн 250-280 нм непосредственно примыкают к поверхности ограненного алмаза.
4. Устройство по п.1, в котором оптическая система выполнена с возможностью перемещения таким образом, что между оптическими волокнами для ввода и вывода излучения от источника излучения с длинами волн 350-380 нм образуется зазор размером 1-2 мм.
5. Устройство по п.4, в котором источник лазерного излучения выполнен с возможностью направления лазерного излучения на поверхность ограненного алмаза через указанный зазор.
6. Устройство по п.4 или 5, дополнительно содержащее зеркало, установленное на оптическом пути между источником лазерного излучения и ограненным алмазом, при этом направление указанного лазерного излучения на поверхность ограненного алмаза обеспечивается посредством указанного зеркала.
7. Устройство по п.2, в котором оптическая система дополнительно содержит нотч-фильтр, выполненный с возможностью размещения между двумя коллимирующими линзами для ослабления интенсивности излучения от источников излучения.
8. Устройство по п.7, в котором нотч-фильтр снабжен перемещающим механизмом ввода-вывода для вывода фильтра с оптического пути излучения при выводе оптического излучения от источника излучения с длинами волн 250-280 нм.
9. Устройство по п.1, в котором измерительное отверстие выполнено в центральной области места для измерений для подвода излучений на поверхность алмаза.
10. Устройство по п.8, в котором микроконтроллер дополнительно выполнен с возможностью управления механизмом ввода-вывода для вывода нотч-фильтра с оптического пути излучения.


 
Назад|  Новый поиск