Евразийский сервер публикаций

Евразийская заявка № 202092221

   Библиографические данные
(21)202092221    (13) A1
(22)2019.03.22

 A ]   B ]   C ]   D ]   E ]   F ]   G ]   H ] 

Текущий раздел: G     


Документ опубликован 2021.02.04
Текущий бюллетень: 2021-02  
Все публикации: 202092221  

(51) G01N 23/222(2006.01)
(43)A1 2021.02.04 Бюллетень № 02  тит.лист, описание 
(31)2018110356
(32)2018.03.23
(33)RU
(86)RU2019/050030
(87)2019/182482 2019.09.26
(71)ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "ДИАМАНТ" (RU)
(72)Сапожников Михаил Григорьевич, Товстенко Юрий Геннадьевич, Разинков Егор Александрович, Рогов Юрий Николаевич, Алексахин Вадим Юрьевич (RU)
(74)Котлов Д.В., Пустовалова М.Л., Яремчук А.А., Равлина Е.А. (RU)
(54)УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ МЕЧЕНЫХ НЕЙТРОНОВ
   Реферат  [ENG]
(57) Предложено устройство для определения элементного состава образцов твердых или жидких материалов, содержащее нейтронный блок, выполненный с приемным сосудом для размещения в нем исследуемого образца материала и снабжённый: (a) нейтронным генератором, предназначенным для генерации потока меченых нейтронов и альфа-частиц, при этом в нейтронный генератор встроен альфа-детектор; (b) детекторами гамма-излучения, предназначенными для регистрации спектров характеристического гамма-излучения, возникающего при облучении образца материала потоком меченых нейтронов; (c) системой анализа данных, предназначенной для сбора и анализа данных, получаемых от альфа-детектора нейтронного генератора и детекторов гамма-излучения; и (d) биологической защитой нейтронного блока, обеспечивающей безопасную работу обсуживающего персонала, при этом система анализа данных выполнена с возможностью определения элементного состава образца материала с использованием только гамма-квантов, попадающих в выбранный временной интервал временного спектра альфа-гамма совпадений и соответствующих образцу материала, и с использованием другой части временного спектра альфа-гамма совпадений для энергетической калибровки полученных спектров гамма-излучения при каждом измерении каждого образца. Также предложен соответствующий способ, осуществляемый в предложенном устройстве.