Бюллетень ЕАПВ "Изобретения (евразийские заявки и евразийские патенты)"
Бюллетень 2´2007

  

(11)

008366 (13) B1       Разделы: A B C D E F G H   

(21)

200200543

(22)

2000.10.27

(51)

G01N 21/88 (2006.01)
G01N 21/84
(2006.01)
C25C 1/00
(2006.01)

(31)

19992406

(32)

1999.11.09

(33)

FI

(43)

2002.10.31

(86)

PCT/FI2000/000932

(87)

WO 2001/035083 2001.05.17

(71)(73)

ОУТОКУМПУ ОЙЙ (FI)

(72)

Марттила Том (FI)

(74)

Ятрова Л.И. (RU)

(54)

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕКТРОДА

(57) 1. Способ контроля качества отложений, образованных на поверхности одного из электродов при электролитическом осаждении металлов, в котором, по существу, всю поверхность катода (1), используемого в электролитическом процессе, освещают с одной стороны по меньшей мере одним источником света (3), а изображение освещенной поверхности (12) получают с помощью по меньшей мере одного съемочного аппарата (8), полученное изображение передают в устройство для обработки полученного изображения (9), где на основе указанного изображения по присутствию затемненных участков, определяют возможные неоднородности отложений на поверхности катода, для классификации отложений (11), полученных на катоде, для следующей ступени технологического процесса, при этом источник света (3), освещающий поверхность катода (1), устанавливают по отношению к плоскости (12), образующей поверхность катода так, чтобы источник света (3) размещался снаружи области, образованной перпендикулярами (5) к плоскости, образующей поверхность катода (1).

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что источник света (3), освещающий поверхность катода, устанавливают к ней под углом от 0 до 90°, предпочтительно 30-60°, если величину этого угла измерять в том месте, где лучи (4), падающие от источника освещения (3), пересекаются с центральной линией (6) плоскости, которая является поверхностью катода.

3. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что для получения изображения освещаемой поверхности (12) съемочный аппарат (8) устанавливают, по существу, перпендикулярно к плоскости (12), образующей контролируемую поверхность катода.

4. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что для получения изображения освещенной плоскости (12) съемочный аппарат (8) устанавливают, по существу, в центральном положении относительно плоскости (12), образующей контролируемую поверхность катода.

5. Способ по любому из пп.1-3, отличающийся тем, что для получения различных изображений освещенной поверхности съемочные аппараты (8) устанавливают, по существу, по центральной линии (6) плоской поверхности (12), которая является контролируемой поверхностью катода.

6. Способ по любому из пп.1-5, отличающийся тем, что полученные изображения поверхности отдельных катодов (1) вводятся в микропроцессор (10), подключенный к устройству (9), для обработки полученного изображения.

7. Способ по п.6, отличающийся тем, что для регулирования электролитического процесса используют информацию о параметрах режима процесса электролиза, введенную в микропроцессор (10).

8. Способ по любому из пп.1-7, отличающийся тем, что в качестве источника света (3) используют галогеновый прожектор.

9. Способ по любому из пп.1-7, отличающийся тем, что в качестве светового источника освещения света (3) используют лампу дневного света.

10. Способ по любому из пп.1-7, отличающийся тем, что в качестве светового источника (3) используют лампу накаливания.

11. Способ по любому из пп.1-10, отличающийся тем, что в качестве съемочного аппарата используют (8) фотоаппарат.

12. Способ по любому из пп.1-11, отличающийся тем, что в качестве съемочного аппарата используют видеокамеру.

13. Способ по любому из предыдущих пунктов, отличающийся тем, что используют по меньшей мере два источника света.



наверх