Пресс-релиз: визит делегации Патентного ведомства Японии (JPO) в Евразийское патентное ведомство

27 января 2012 г. Евразийское патентное ведомство в Москве принимало делегацию Патентного ведомства Японии (JPO). В состав делегации JPO вошли эксперт Отдела обработки изображений Управления патентной экспертизы г-н Х. Шикано и эксперт Отдела общего машиностроения Управления патентной экспертизы г-н К. Такешита. Делегация ЕАПВ, возглавляемая начальником Управления экспертизы В.Б. Талянским, состояла из руководителей структурных подразделений и специалистов Управления экспертизы, Управления патентной информации, Отдела автоматизации делопроизводства и Отдела по международным связям.

Целью визита явилось ознакомление с патентными системами и процедурами проведения экспертизы в Патентном ведомстве Японии и Евразийском патентном ведомстве в соответствии с ранее достигнутыми договоренностями для установления более тесных контактов между экспертами.